SEM ve TEM SAĞLAMA

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ve Transmisyon Elektron Mikroskobu yarı iletken cihazları analiz etmek için standart görünteleme yöntemleridir ve ayrıca kalite kontrol sisteminin, hata analizi veya araştırma geliştirme faaliyetlerinin hayati araçlarıdır.

Her iki teknik de cihazların dikey yapısını incelemek amacıyla enine kesit üzerinde uygulanabilir. Bu enine kesitler farklı şekillerde uygulanabilir. Odaklanmış İyon Demeti (FIB), çoğunlukla SEM ile birlikte, tek araç olarak en yaygın hazırlık tekniği haline gelmiştir.

SEM ve TEM enine kesit alma, SGS'nin uzmanlaştığı bir hizmettir. Uzmanlarımız, yüksek performanslı ekipmanla çalışarak, ihtiyaç duyduğunuzda, optik mikroskopun sağlayacağından daha fazla detay sağlayacak şekilde görüntüler elde ederler.

SEM ve TEM enine kesit alma yöntemini pek çok analitik amaç için kullanırız:

• Fiziki arıza analizi
• Yapı analizi
• Geriye doğru mühendislik

SEM ve TEM enine kesit yönteminin, ürünlerinizin kalite kontrolünde nasıl önemli bir araç olarak kullanılabileceği konusunda, daha fazla bilgi için hemen SGS ile irtibata geçin.